Profilometro ottico di superficie di nuova generazione.

TopMap Micro.View ® +

Profilometro interferometrico con risoluzione sub-nanometrica. Ottica di uova generazione per finitura superficiale, rugosità superficiale e microstrutture.

TopMap Micro.View+ è il profilometro ottico di superficie di nuova generazione. Progettata per la modularità, questa workstation completa consente configurazioni personalizzate e specifiche dell’applicazione. Micro.View + fornisce l’analisi più dettagliata della topografia di rugosità superficiale, tessitura e microstruttura. Combina i dati 3D con le informazioni sul colore per visualizzazioni straordinarie e analisi estese come la documentazione dettagliata dei difetti. La fotocamera da 5 MP ad alta risoluzione offre una visualizzazione dei dati 3D incredibilmente dettagliata delle superfici ingegnerizzate.

Interferometro a luce bianca di fascia alta con risoluzione nm

Intervallo di misurazione z di 100 mm con tecnologia a scansione continua CST

Con Focus Finder e Focus Tracker pronti per l'automazione

Motorizzato in X, Y, Z

Modalità informazioni colore per analisi estese e documentazione dei difetti

Configurazioni modulari specifiche per l'applicazione