Profilometro ottico di superficie di nuova generazione.
TopMap Micro.View ® +
Profilometro interferometrico con risoluzione sub-nanometrica. Ottica di uova generazione per finitura superficiale, rugosità superficiale e microstrutture.
TopMap Micro.View+ è il profilometro ottico di superficie di nuova generazione. Progettata per la modularità, questa workstation completa consente configurazioni personalizzate e specifiche dell’applicazione. Micro.View + fornisce l’analisi più dettagliata della topografia di rugosità superficiale, tessitura e microstruttura. Combina i dati 3D con le informazioni sul colore per visualizzazioni straordinarie e analisi estese come la documentazione dettagliata dei difetti. La fotocamera da 5 MP ad alta risoluzione offre una visualizzazione dei dati 3D incredibilmente dettagliata delle superfici ingegnerizzate.
Interferometro a luce bianca di fascia alta con risoluzione nm
Intervallo di misurazione z di 100 mm con tecnologia a scansione continua CST
Con Focus Finder e Focus Tracker pronti per l'automazione
Motorizzato in X, Y, Z
Modalità informazioni colore per analisi estese e documentazione dei difetti
Configurazioni modulari specifiche per l'applicazione
