Microscopia elettronica da Banco SEM

SEM da tavolo SH-5500P

Microscopio Elettronico di elevate prestazioni, controllato da un Computer Potente e Compatto, offre il vantaggio di una grande camera che consente di montare campioni di grandi dimensioni e dispone di un sistema di movimentazione dei campioni completamente motorizzato a 5 assi (assistito da navigatore elettronico) e tensione regolabile da 1 a 30 kV (6 step).

Inclinazione X, Y, Z (40 mm) (da -15 a + 90 °), rotazione (360 °)

Compatibile con windows 10

5 assi completamente motorizzati

L'inclinazione da -45 a +90 gradi consente una perfetta osservazione del campione da ogni direzione.

Consente la ricostruzione 3D con immagini stereo SE accoppiate o da 4 immagini BSE

Inclinazione di 70 gradi per EBSD disponibile (opzione)

Dimensione massima del campione: diametro 80 mm, spessore 40 mm

Interfaccia grafica facile da usare

Telecamera CCD con navigatore

Una telecamera CCD collegata al SEM consente di catturare un’immagine dello stage portacampioni contemporaneamente con il campione in esame, l’immagine caricata automaticamente nel software SEM permette una agevole navigazione, per spostarsi sulle ROI di interesse del campione è sufficiente un click e lo stage si sposterà automaticamente.

CARATTERISTICHE ESCLUSIVE IN UN SEM TABLE TOP!Telecamera CCD con navigatore per stage

  • Fino a 5120 * 3560 pixel di immagine

  • Risoluzione del fascio 5nm (SE)

  • Alto ingrandimento: X 150 K.

  • 4 aperture variabili e dimensione del punto variabile continua

  • Modalità High Vac e Low Vac

  • Rivelatore SE e BSEDoppia modalità

  • Da 1 a 30 kV (6 passi 5kV)

  • Regolazioni automatiche

  • Navigatore di scena a 5 assi

2 rivelatori di elettroni: SE e BSE (4 diodi)

SE (elettrone secondario)
SE forma l'immagine con le informazioni provenienti dalla riflessione dell'urto / generalmente utilizzata per comporre l'immagine complessiva osservando la forma della superficie.
SE (elettrone secondario)
BSE (Backscattered Electron)SE forma l'immagine con le informazioni provenienti dalla riflessione dell'urto / generalmente utilizzata per comporre l'immagine complessiva osservando la forma della superficie.

2 modalità: alto vuoto e basso vuoto

I campioni non conduttivi possono essere osservati senza rivestimento
  • Funzioni di regolazione automatica

  • Il sistema può essere pronto entro 2 minuti dallo scambio del campione

  • Compatto e flessibile

  • GUI amichevole

HARDWARE E SOFTWARE OPZIONALI

SE forma l'immagine con le informazioni provenienti dalla riflessione dell'urto / generalmente utilizzata per comporre l'immagine complessiva osservando la forma della superficie.
Analisi di Immagini 3D per SEM
BSE (Backscattered Electron)SE forma l'immagine con le informazioni provenienti dalla riflessione dell'urto / generalmente utilizzata per comporre l'immagine complessiva osservando la forma della superficie.