MICROSCOPIA ELETTRONICA

SEM da tavolo SH-5500P

Microscopio Elettronico di elevate prestazioni, controllato da un Computer Potente e Compatto, offre il vantaggio di una grande camera che consente di montare campioni di grandi dimensioni e dispone di un sistema di movimentazione dei campioni completamente motorizzato a 5 assi (assistito da navigatore elettronico) e tensione regolabile da 1 a 30 kV (6 step).

Inclinazione X, Y, Z (40 mm) (da -15 a + 90 °), rotazione (360 °)

  • Compatibile con Window 10
  • 5 assi completamente motorizzati
  • L’inclinazione da -45 a +90 gradi consente una perfetta osservazione del campione da ogni direzione.
  • Consente la ricostruzione 3D con immagini stereo SE accoppiate o da 4 immagini BSE
  • Inclinazione di 70 gradi per EBSD disponibile (opzione)
  • Dimensione massima del campione: diametro 80 mm, spessore 40 mm
Risultato immagini per hirox measurements

Interfaccia grafica facile da usare

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Telecamera CCD con navigatore

Una telecamera CCD collegata al SEM consente di catturare un’immagine dello stage portacampioni contemporaneamente con il campione in esame, l’immagine caricata automaticamente nel software SEM permette una agevole navigazione, per spostarsi sulle ROI di interesse del campione è sufficiente un click e lo stage si sposterà automaticamente.

Risultati immagini per HIROX APPLICATION

CARATTERISTICHE ESCLUSIVE IN UN SEM TABLE TOP!

  • Telecamera CCD con navigatore per stage
  • Fino a 5120 * 3560 pixel di immagine
  • Risoluzione del fascio 5nm (SE)
  • Alto ingrandimento: X 150 K.
  • 4 aperture variabili e dimensione del punto variabile continua
  • Modalità High Vac e Low Vac
  • Rivelatore SE e BSEDoppia modalità
  • Da 1 a 30 kV (6 passi 5kV)
  • Regolazioni automatiche
  • Navigatore di scena a 5 assi

2 rivelatori di elettroni: SE e BSE (4 diodi)

SE (elettrone secondario)
SE forma l’immagine con le informazioni provenienti dalla riflessione dell’urto / generalmente utilizzata per comporre l’immagine complessiva osservando la forma della superficie.
BSE (Backscattered Electron)
Le immagini sono formate dal componente (numero atomico) che compone il campione e 발생 계수 aumenta in base all’aumento del numero atomico

2 modalità: alto vuoto e basso vuoto

I campioni non conduttivi possono essere osservati senza rivestimento
  • Funzioni di regolazione automatica
  • Il sistema può essere pronto entro 2 minuti dallo scambio del campione
  • Compatto e flessibile
  • GUI amichevole


HARDWARE E SOFTWARE OPZIONALI

Analisi di Immagini 3D per SEM

Tags: caratterizzazione dei materiali e nanoparticelle, Imaging 3D, Microscopia elettronica a scansione con sonda per microanalisi, SEM da banco, Hirox, scienze dei materiali, scienze biologiche