Chi siamo

Il conoscere di ciascuno di noi è «una piccola parte di un più ampio conoscere integrato che tiene unita l’intera biosfera o creazione»

Il nostro background ha origini nel 1975 e negli ultimi decenni la citazione di G. Bateson è il “leit motiv” che ha caratterizzato la nostra attività di ricerca di innovazioni tecnologiche. Per la soluzione di problematiche complesse lavoriamo in un contesto multidisciplinare in stretta sinergia con Gruppi internazionali di Ricercatori nell’ambito di Laboratori Condivisi quotidianamente impegnati in una attività fondamentalmente basata sul “problem solving”, test e sperimentazioni di campioni dei nostri Clienti, spesso attraverso l’integrazione e personalizzazione di apparecchiature dell’ultima generazione prodotte dalle nostre Case rappresentate e dai nostri Partners internazionali per lo studio, sviluppo e realizzazione di Sistemi “Customizzati”.

MICROSCOPIA OTTICA, ELETTRONICA, DIGITALE … DAL 1975 …

dal filo di lana al filo di grafene è solo una questione di scala ...

 

 


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In oltre 40 anni di attività di marketing di apparecchiature per le Scienze dei Materiali e Il Controllo Qualità, la Simitecno si è specializzata in Sistemi di Scansione 3D Multi scala di macro e microstrutture per Controlli Non Distruttivi, Imaging 3D e Misure Dimensionali Non a contatto; Apparecchiature tra di loro complementari per applicazioni molto diversificate che coprono larga parte delle esigenze di Controllo dei materiali dell’Industria Manufatturiera, Aerospaziale, Automobilistica, Ferroviaria, Petrolchimica, etc.


IL NOSTRO BACKGROUND NEI CONTROLLI NON DISTRUTTIVI

 

DISTRIBUZIONE DI SISTEMI MANUALI E AUTOMATICI DI CONTROLLO E MAPPATURA AD ULTRASUONI “C-SCAN”

 

DISTRIBUZIONE DI SISTEMI AUTOMATICI DI CONTROLLO E MAPPATURA AD ULTRASUONI “C-SCAN”

 

PRODUZIONE DI SISTEMI AUTOMATICI DI CONTROLLO E MAPPATURA AD ULTRASUONI


I ns. Specialisti e i nostri Ingegneri vantano una lunga esperienza personale nella ricerca di soluzioni avanzate per la caratterizzazione delle materie prime, sviluppo di nuovi materiali, accettazione di semilavorati, analisi di laboratorio, verifiche dimensionali in sala metrologica e reparti di collaudo, failure analysis nei processi produttivi e in “situ” e monitoraggio della rispondenza ai requisiti di impiego di componenti, impianti e strutture di diversa tipologia.


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Sensori diversificati, tra di loro integrabili consentono scansioni esterne, interne e strutturali di oggetti di qualsiasi forma e dimensione per l’analisi delle caratteristiche di Rugosità superficiale, Profilo, Forma e Controllo dell’integrità strutturale dei materiali , con metodologie ad Ultrasuoni, X-RAY CT, Microscopi Digitali 3D e Scanner ottici e laser con risoluzione Macro-Micro-Nano metrica che trovano largo impiego anche nell’ambito di Istituti forensi, Medicina legale, Musei, Centri di restauro, Centri di riabilitazione fisico-motoria, e in molti ambiti di ricerca nel settore delle scienze geologiche, biologiche e delle risorse ambientali.

 

SERVICES AGIOMETRIX PARTNERSHIP

Chiedeteci una dimostrazione delle apparecchiature o un test gratuito per verificare l’idoneità delle nostre soluzioni alle specifiche esigenze della vostra realtà Industriale o Scientifica

Email to: Info@simitecno.it

Tags: scanner laser 3D, scanner a luce strutturata, macro, micro, nano scansioni di superfici, reverse engineering, tomografia industriale a raggi X, misure dimensionali non a contatto, caratterizzazione dei materiali e nanoparticelle, Imaging 3D, metrologia di superfici in linea di produzione, profilometria ottica 3D, profilometria laser 3d, misure di rugosità, profilo e forma senza contatto, Microscopia elettronica a scansione con sonda per microanalisi, sistemi di misura di superfici, SEM da banco, software CAD, Polyworks, Hirox, RX Solutions, Mitaka, Polyrix, profilometro e rugosimetro oottico, profilometro e rugosimetro laser, CMM laser

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