Caratterizzazione della superficie con la soluzione entry-level dell’interferometria a luce bianca
Il TopMap Metro.Lab di Polytec è un interferometro a luce bianca (interferometro a scansione di coerenza) ad alta precisione con un’ampia gamma verticale e una risoluzione nanometrica. Ciò significa che il sistema di misurazione della topografia Metro.Lab è ideale per la misurazione senza contatto di planarità, altezze dei gradini e parallelismi di grandi superfici e strutture anche su materiali complessi.
Essendo una stazione di misura completa, TopMap Metro.Lab è la soluzione ottimale quando si desidera misurare topografie di grandi aree su quasi tutte le superfici. L’ampio campo di misurazione verticale di 70 mm consente di eseguire misurazioni con risoluzione subnanometrica, anche in condizioni difficili.
Dal momento che offre un ottimo rapporto qualità-prezzo, TopMap Metro.Lab è particolarmente interessante da usare, sia in laboratorio metrologico che vicino alla produzione.
Senza contatto grazie al principio di misurazione ottico e interferometrico
Misurazione possibile anche su tratti ripidi (es. fori) grazie all'obiettivo telecentrico
Flessibile grazie alla portata di 70 mm
Misurazioni veloci anche di grandi aree
Ampio campo di misura fino a circa 80 x 80 mm
Software facile da usare e automatizzabile, genera parametri conformi a DIN/ISO
Adatto a quasi tutte le superfici, anche quelle con riflettività molto diverse, grazie allo Smart Surface Scanning
Può essere integrato in una postazione di lavoro protetta dalla polvere e antivibrazioni per l'uso nei capannoni delle macchine