NANO POINT SCANNER
Quando la microscopia incontra la metrologia
NPS è un sensore confocale a luce bianca combinato con uno stativo motorizzato ad alta precisione.
Consente la misurazione di altezze e spessori submicrometrici su qualsiasi tipo di superficie senza alcun contatto con il campione e in conformità con le normative ISO.
L’integrazione con il sistema di microscopia Hirox permette di sfruttare le immagini ad alta risoluzione acquisite con il microscopio per determinare con estrema facilità le aree da scansionare.
Tecnologia a luce confocale bianca
L’NPS è un innovativo profilometro confocale 3D non a contatto che misura l’altezza in tempo reale per la scansione di profili o superfici sfruttando un fascio di luce bianca focalizzata:
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Il raggio LED a luce bianca viene proiettato attraverso un beamsplitter e una lente cromatica sulla superficie del campione.
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Il fascio di luce riflessa dal campione viene filtrato da un pinhole confocale, isolando una singola lunghezza d’onda perfettamente a fuoco.
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Lo spettrometro NPS traduce accuratamente questa lunghezza d’onda in informazioni sull’altezza e la visualizza graficamente e numericamente nel software.
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Fino a 2000 informazioni di altezza al secondo vengono acquisite in tempo reale creando un profilo quando il campione viene movimentato tramite la tavola motorizzata in XY.
Profilo e multiprofilo
Il modo più rapido per effettuare una misurazione! Dopo aver scansionato l’area tra due punti, l’NPS visualizza il profilo: è quindi possibile regolare il livello e misurare le distanze orizzontali e verticali, nonché i parametri Ra, Rz e Rt. Per misurazioni avanzate, basta selezionare il modello preimpostato desiderato dal menu dell’NPS. Grazie alla nuova funzione multiprofilo programmabile, è possibile eseguire più profili singoli e integrarli in un unico report.
Forma
La forma e la geometria delle superfici possono essere misurate facilmente: ad esempio, su un oggetto sferico, i risultati della misurazione della curvatura possono essere confrontati con le specifiche di produzione. L’NPS è in grado di misurare diverse tipologie di forme e geometrie – quali linee, piani, sfere, cilindri o superfici a forma libera – rilevando parametri come lunghezza, altezza, raggio, angolo, volume e molto altro. Grazie a un ampio campo di misura, che arriva fino a 4000 micrometri, è possibile acquisire e misurare svariate forme e configurazioni geometriche.
Flatness, waviness e complanarità
Imbarcamento, deformazione, ondulazione o planarità possono essere facilmente misurati su ampie superfici con il Nano Point Scanner! E’ possibile rilevare difetti derivanti, ad esempio, da anomalie della macchina o del pezzo, tensioni residue, vibrazioni o trattamenti termici.
La complanarità è un parametro che richiede la misurazione su lunghe distanze e un’elevata precisione lungo l’asse Z; tale misurazione può essere effettuata analizzando un profilo o un’intera superficie.
Rugosità, struttura e difetti
La metrologia e topografia della superficie determinano l’idoneità di una superficie per la sua funzione. Analisi superficiali comprendono la rugosità del profilo (Ra), la rugosità superficiale (Sa), texture, difetti e caratterizzazione strutturale.
Ai fini della produzione e della progettazione, queste misurazioni sono cruciali per garantire che il materiale finito soddisfi le specifiche di progetto.
Sensori NPS
Il sensore più adatto alle tue esigenze.
Il sistema NPS offre un’ampia gamma di sensori per effettuare misurazioni estremamente precise a seconda della tipologia di applicazione. E’ possibile, infatti, scegliere i sensori più adatti alle proprie esigenze tenendo in considerazione la distanza di lavoro, le dimensioni del campione e la risoluzione necessaria.
Sistema avanzato di misurazione e reportistica
Grazie ai più avanzati software di metrologia, il sistema NPS consente di generare report con misurazioni precise nel modo più semplice.
La tecnologia di Digital Surf rappresenta la soluzione di metrologia più avanzata sul mercato:
Sfrutta il miglior software di metrologia
- Visualizzazione in tempo reale della topografia superficiale 3D
- Sovrapposizione di superfici 3D per una rapida localizzazione delle caratteristiche: combinazione di immagine a color delle altezze e immagine delle intensità
- Rimozione di artefatti legati all’acquisizione dati e al campione
- Calcolo dell’area, correzione del livello e correzione della forma
- Suite completa di strumenti di misura su profili e dati 3D, con tracciabilità dell’utente e del processo
Semplice realizzazione di report
- Facile integrazione in ambienti di laboratorio e di produzione ed esportazione di tutti i risultati numerici.
- Facile pubblicazione: esportazione di documenti di analisi, pagine e singole immagini fino a 1200 dpi.
