NANO INNOVATION 14 SETTEMBRE 2026
Presso la Facoltà di Ingegneria Civile e Industriale, Sapienza Università di Roma,
Via Eudossiana 18 – 00184 Rome (Italy)
WORKSHOP APPLICATIVO DI MICROSCOPIA DIGITALE E CONFOCALE 3D E
PROFILOMETRIA LASER PROBE CON RISOLUZIONE NANOMETRICA:
PROFILOMETRIA LASER PROBE CON RISOLUZIONE NANOMETRICA:
Tecniche avanzate per la caratterizzazione tridimensionale delle superfici
Microscopio Digitale 3D

Microscopio digitale 3D per imaging a 360° senza manipolare il campione e scansioni e misurazioni 2D/3D multiscala ad alta risoluzione con ingrandimenti fino a 10.000x.
La vasta gamma di ottiche, stativi, sistemi di illuminazione e accessori, lo rendono un sistema estremamente flessibile in grado di adattarsi a qualunque applicazione.
Profilometro Confocale

Profilometro confocale cromatico a luce bianca per scansioni non a contatto di profili e superfici ad alta risoluzione (fino a 76 nm in Z).
Lavora su qualsiasi superficie, anche riflettente, specchiata e trasparente, e permette di misurare rugosità certificate.
Profilometro Laser

Profilometro laser di alta precisione con risoluzione in Z di 1 nm.
Lo spot laser con raggio di 0,5 μm combinato con assi motorizzati XY di alta precisione consente di misurare in tempo reale il profilo 3D di qualsiasi tipo di superficie evitando errori di collimazione ottica dei piani focali.