Microscopi semiconduttori e caricatori di wafer

Microscopia Ottica Nikon

Microscopi semiconduttori e caricatori di wafer

Serie Eclipse L200N

Sistemi di microscopi per ispezione wafer e maschera da 200 mm per l'identificazione dei difetti di luce riflessa.

Serie Eclipse L300N

Sistemi di microscopi per ispezione wafer e maschera da 300 mm per l'identificazione dei difetti di luce riflessa.

NWL200

Caricatore di wafer per ispezione IC avanzato in grado di caricare wafer sottili da 100 µm.