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TEMATICHE:

IMAGING 3D e METROLOGIA AUTOMATICA

Multiscale Surface and Structures Metrology and Non Destructive Testing, Failure Analysis and Computational Frameworks for Nano Micro Macro Materials and Bio-Systems

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Simitecno in decenni di distribuzione di apparecchiature d’avanguardia per il Controllo Qualità e i Controlli Non Distruttivi dei materiali si è specializzata in SISTEMI DI SCANSIONE 3D NON A CONTATTO con elevati standard di qualità nel campo della metrologia di superficie e dei controlli dimensionali e strutturali di manufatti di qualsiasi natura, forma e dimensione.

Proponiamo sistemi di scansione Non a contatto di alta precisione basati su tecniche “multiscala” di Microscopia Digitale 3D multifocali e Confocali, Laser Point Prtobe, Luce Strutturata, X-Ray CT… customizzabili in base alle esigenze dei nostri Clienti grazie alla nostra rete di laboratori Condivisi con Centri di competenza multi-disciplinari che ci aiutano ad affrontare e risolvere problematiche specifiche di controllo in ogni settore riguardante soluzioni metrologiche e ispezioni di qualità per i processi produttivi e in situ.

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